涂层测厚仪 CMI243
手持式涂镀层测厚仪 CMI243 介绍
牛津仪器CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。
技术规格:
准 确 度:相对标准片±3% 精 确 度:0.3% 分 辨 率:0.1μm(0.01mils) 电 涡 流:遵循DIN50984,BS5411 Part 3,ISO2360,ISO21968草案,ASTM B499,ASTM E376 存 储 量:26,500条存储读数 单 位:密耳(mil)、微米(μm ),一键自动转换 统计显示:读数次数、平均值、标准差、值 接 口:RS-232串行输出端口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机 显 示:3位数液晶显示屏,字体高度12.7mm(1/2") 尺 寸:长×宽×高=149×79.4×30.2mm(5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”) 重 量:0.26kg(9 oz) 含电池 电 池:9V碱性电池,65小时连续使用
CMI243配置包括:
CMI243主机 ECP-M探头及拆除指南 校准用铁上镀锌标准片组选购部件
SMTP-1探头(磁感应探头)
RS232串行电缆
CMI243探针状况:
CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。
凸面半径 | 凹面半径 | 工作高度 | 测量面积直径 | 底材厚度 |
1.2mm (0.045") | 3.5mm (0.135") | 100mm (4") | 2.5mm (0.09") | 0.3mm(12mils) |
操作范围
铁上镀层 | 镀层厚度范围 | 探头 |
Zn | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Ni | 0-75μm(0-3.0mil | ECP-M |
Cd | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cr | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cu | 0-10μm(0-0.4mil) | ECP-M |
非磁性/Fe | 0-1270μm(0-50mil) | SMP-1 |
售后服务
仪器自购买后享有自购买日期计起为期一年的保固期。
我公司提供完善的膜厚仪售后服务,能在时间为客户提供帮助,我们在膜厚仪行业积累了丰富的经验,能为客户提供有效、完善的测量方案和方法,牛津膜厚仪经过多年的不懈努力,已得到广大客户的认可和肯定。
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